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    Triple Junction Transport and the Impact of Grain Boundary Width in Nanocrystalline Cu

    Triple Junction Transport and the Impact of Grain Boundary Width in Nanocrystalline Cu von Chellali, Mohammed Reda, Balogh, Zoltan, Bouchikhaoui, Houari, Schlesiger, Ralf, Stender, Patrick, Zheng, Lei, Schmitz, Guido

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