Treffer 1 - 3 von 3 für Suche 'Botros, K.Z.', Suchdauer: 0,28s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    A method for determining foil thicknesses in TEM by using convergent beam electron diffraction under weak beam conditions

    A method for determining foil thicknesses in TEM by using convergent beam electron diffraction under weak beam conditions von Botros, K.Z.

    Veröffentlicht in Micron (Oxford, England : 1993)

    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  2. 2
    Effects of systematic reflections on diffraction contrast in H.C.P. cobalt

    Effects of systematic reflections on diffraction contrast in H.C.P. cobalt von Pérez, R., Sheinin, S. S., Botros, K. Z.


    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:
  3. 3
    On the stability of amorphous silicon selenium films

    On the stability of amorphous silicon selenium films von Wakim, F.G., Al-Jassar, A., Hasan, M.A., Botros, K.Z.


    Volltext
    Artikel

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: