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Optically enhanced defect reactions in semi-insulating bulk GaAs
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High resolution and sensitivity infrared tomography
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Qualification by optical means of CdTe substrates
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Image analysis of EL2 distributions in LEC GaAs Si materials
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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Micro-optomechanical sensor for optical connection in the near field
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Long lifetime photoconductivity in semi-insulating bulk GaAs
Veröffentlicht in Solid state communications
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