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Tester for semiconductor devices having a zener diode controlled bias removal protection circuit
von
BOLVIN ROBERT W
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PRODUCTION ENGINEERING MEASURE FOR IMPROVEMENT OF PRODUCTION TECHNIQUES TO INCREASE THE RELIABILITY OF SILICON TRANSISTOR TYPE 2N3055
von
Mechura,John
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Bolvin,Robert
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Reverse bias second breakdown protector
von
BOLAN WAYNE N
,
BOLVIN ROBERT W
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IDENTIFICATION AND PROTECTION SYSTEM FOR RECORDING MEDIUM
von
BOULANGER, ROBERT, 88 GILLES BOLVIN, BOUCHERVILLE, QUEBEC J4B 2L6
,
CHARLAND, ANDRE, 88 GILLES BOLVIN, BOUCHERVILLE, QUEBEC J4B 2L6
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