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Hiding Traces of Resampling in Digital Images
Veröffentlicht in IEEE transactions on information forensics and security
VolltextArtikel -
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Low roughness laser etching of fused silica using an adsorbed layer
Veröffentlicht in Applied surface science
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Time-resolved measurements during backside dry etching of fused silica
Veröffentlicht in Applied surface science
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Surface characterization of backside-etched transparent dielectrics
Veröffentlicht in Thin solid films
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Etching of fused silica and glass with excimer laser at 351 nm
Veröffentlicht in Applied surface science
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Laser etching of transparent materials at a backside surface adsorbed layer
Veröffentlicht in Applied surface science
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