Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Bodammer, G.K.H.
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Bodammer, G.K.H.
Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Bodammer, G.K.H.
'
, Suchdauer: 0,21s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Evaluation of sheet resistance and electrical linewidth measurement techniques for copper damascene interconnect
von
Smith, S.
,
Walton, A.J.
,
Ross, A.W.S.
,
Bodammer, G.K.H.
,
Stevenson, J.T.M.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on semiconductor manufacturing
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Evaluation of the issues involved with test structures for the measurement of sheet resistance and linewidth of copper damascene interconnect
von
Smith, S.
,
Walton, A.J.
,
Ross, A.W.S.
,
Bodammer, G.K.H.
,
Stevenson, J.T.M.
Volltext bestellen
Tagungsbericht
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
1 Treffer
1
Online Resources
2 Treffer
2
Format
Articles
1 Treffer
1
Conference Proceedings
1 Treffer
1
Zeitschriftentitel
Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing
1 Treffer
1
Schlagworte
Copper
2 Treffer
2
Electric Resistance
2 Treffer
2
Electrical Resistance Measurement
2 Treffer
2
Engineering
2 Treffer
2
Engineering, Electrical & Electronic
2 Treffer
2
Integrated Circuit Interconnections
2 Treffer
2
Science & Technology
2 Treffer
2
Technology
2 Treffer
2
Testing
2 Treffer
2
Aluminum
1 Treffer
1
Applied Sciences
1 Treffer
1
Buildings
1 Treffer
1
Bulging
1 Treffer
1
Chemical Mechanical Polishing
1 Treffer
1
Cmp
1 Treffer
1
Computer Simulation
1 Treffer
1
Condensed Matter Physics
1 Treffer
1
Conducting Materials
1 Treffer
1
Conductivity
1 Treffer
1
Connectors
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Ieee Power & Energy Library
2 Treffer
2
Ieee Electronic Library (Iel)
2 Treffer
2
Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
1 Treffer
1
Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
1 Treffer
1
Ingentaconnect
1 Treffer
1