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On-chip p-MOSFET dosimetry (CMOS ICs)
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Integrated environmental monitoring system for spacecraft
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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CRRES microelectronic test chip orbital data. II
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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SEU/SRAM as a process monitor
Veröffentlicht in IEEE transactions on semiconductor manufacturing
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