Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations von Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Mendicino, Roberto, Dalla Betta, G.-F, Bilei, G. M.

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Effects of Interface Donor Trap States on Isolation Properties of Detectors Operating at High-Luminosity LHC von Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Mattiazzo, S., Dalla Betta, G.-F, Dragicevic, M., Bilei, G. M.

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Surface damage characterization of FBK devices for High Luminosity LHC (HL-LHC) operations von Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Betta, G.-F. Dalla, Mattiazzo, S., Bomben, M., Bilei, G.M.

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Measurements and simulations of surface radiation damage effects on IFX and HPK test structures von Moscatelli, F., Morozzi, A., Passeri, D., Mattiazzo, S., Dalla Betta, G.-F., Bergauer, T., Dragicevic, M., Hinger, V., Bilei, G.M.

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Design and simulation studies of the silicon sensors for CMS von Ciampolini, P, Passeri, D, Bilei, G.M, Placidi, P

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Test results and prospects for RD53A, a large scale 65 nm CMOS chip for pixel readout at the HL-LHC von Gaioni, Luigi

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A comprehensive analysis of low-resistivity silicon radiation detectors von Passeri, D., Bilei, G.M., Ciampolini, P.

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Analysis of the transient response of LED-illuminated diodes under heavy radiation damage von Passeri, D., Ciampolini, P., Bilei, G.M., Casse, G., Lemeilleur, F.

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RD53 pixel chips for the ATLAS and CMS Phase-2 upgrades at HL-LHC von Loddo, F., Andreazza, A., Arteche, F., Barbero, M.B., Barillon, P., Beccherle, R., Bjalas, W., Bonaldo, S., Bortoletto, D., Calderini, G., Caratelli, A., Christian, D.C., Christiansen, J., Conti, E., Crescioli, F., Daas, M., De Robertis, G., Demaria, N., Deptuch, G.C., Dieter, Y., Dimitrievska, A., Ding, L., Esposito, S., Exarchou, D., Fahim, F., Fioriti, A., Fougeron, D., Gaioni, L., Garcia-Sciveres, M., Gerardin, S., Gnani, D., Grippo, M., Gromov, V., Hamer, M., Havranek, M., Heim, T., Hemperek, T., Hinterkeuser, F., Hoff, J., Huiberts, S., Janssen, J., Jirsa, J., John, J.J., Kampkotter, J., Karagounis, M., Khwaira, Y., Kluit, R., Krieger, A., Krueger, H., Lalic, J., Lauritzen, M., Licciulli, F., Lipton, R., Liu, T., Lopez Morillo, E., Lounis, A., Luongo, F., Magazzu, G., Marcisovsky, M., Marconi, S., Marquez Lasso, F., Marzocca, C., Mattiazzo, S., Menouni, M., Minuti, M., Mironova, M., Miryala, S., Monteil, E., Moustakas, K., Muõz Chavero, F., Neue, G., Orfanelli, S., Paccagnella, A., Pacher, L., Palla, F., Palomo Pinto, F.R., Papadopoulou, A., Paterno, A., Petri, A., Placidi, P., Pradas, A., Prydderch, M.L., Pulli, A., Ratti, L., Re, V., Rehman, A., Rymaszewski, P., Solal, M.C., Standke, M., Stiller, A., Strebler, T., Stugu, B., Thomas, S., Traversi, G., Vogrig, D., Vogt, M., Wang, T., Yang, H., Zdenko, J., Zimmerman, T.

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TCAD-based analysis of radiation-hardness in silicon detectors von Passeri, D., Baroncini, M., Ciampolini, P., Bilei, G.M., Santocchia, A., Checcucci, B., Fiandrini, E.

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The silicon sensors for the Compact Muon Solenoid tracker—design and qualification procedure von Agram, J.-L, Angarano, M.M, Assouak, S, Bergauer, T, Bilei, G.M, Borrello, L, Brianzi, M, Civinini, C, Dierlamm, A, Dinu, N, Demaria, N, Feld, L, Focardi, E, Fontaine, J.-C, Forton, E, Furgeri, A, Gregoire, Gh, Hartmann, F, Honma, A, Juillot, P, Kartashov, D, Krammer, M, Macchiolo, A, Mannelli, M, Messineo, A, Migliore, E, Militaru, O, Piasecki, C, Santinelli, R, Sentenac, D, Servoli, L, Starodumov, A, Tonelli, G, Wang, J

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The L3 silicon microvertex detector von Acciarri, M., Adam, A., Adriani, O., Ahlen, S., Alcaraz, J., Ambrosi, G., Babucci, E., Baksay, L., Baschirotto, A., Battiston, R., Baur, W., Bay, A., Bencze, Gy.L., Bertucci, B., Biasini, M., Bilei, G.M., Bobbink, G.J., Boissevain, J.G., Bosetti, M., Brooks, M.L., Burger, W.J., Busenitz, J., Camps, C., Caria, M., Castellini, G., Castello, R., Checcuccl, B., Chen, A., Coan, T.E., Commichau, V., DiBitonto, D., Ding, J., Duinker, P., Djambazov, L., Easo, S., Extermann, P., Fiandrini, E., Gabbanini, A., Goldstein, J., Gougas, A., Hangarter, K., Hauviller, C., Herve, A., Hofer, M., Hofer, T., Hou, S., Josa, M.I., Kapustinsky, J.S., Kim, D., Kinnison, W.W., Kirst, H., Kornis, J., Krastev, V.R., Ladron, P., Landi, G., Lebeau, M., Lecomte, P., Lee, D.M., Leiste, R., Lejeune, E., Lin, W.T., Lohmann, W., Marin, A., Massetti, R., Mills, G.B., Nowak, H., Okle, M., Passaleva, G., Paul, T., Pauluzzi, M., Pensotti, S., Perrin, E., Produit, N., Rancoita, P.G., Rattaggi, M., Richeux, J.-P., Santocchia, A., Siedling, R., Sachwitz, M., Schmitz, P., Schöneich, B., Servoli, L., Subham, K., Susinno, G.F., Terza, G., Tesi, M., Thompson, T., Tonisch, F., Toth, J., Trowitzsch, G., Viertel, G., Tuchscherer, H., Vogt, H., Wang, S., Waldmeier, S., Weill, R., Xu, J., Yeh, S.C., Zhou, B., Zilizi, G.

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A combined surface and bulk TCAD damage model for the analysis of radiation detectors operating at HL-LHC fluences von Morozzi, A., Passeri, D., Moscatelli, F., Betta, G.-F. Dalla, Bilei, G.M.

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A pattern recognition mezzanine based on associative memory and FPGA technology for L1 track triggering at HL-LHC von Alunni, L., Biesuz, N., Bilei, G.M., Citraro, S., Crescioli, F., Fanò, L., Fedi, G., Magalotti, D., Magazzù, G., Servoli, L., Storchi, L., Palla, F., Placidi, P., Papi, A., Piadyk, Y., Rossi, E., Spiezia, A.

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Advanced active pixel architectures in standard CMOS technology von Marras, A., Passeri, D., Matrella, G., Placidi, P., Petasecca, M., Servoli, L., Bilei, G.M., Ciampolini, P.

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Design, fabrication, and test of CMOS active-pixel radiation sensors von Passeri, D., Placidi, P., Petasecca, M., Ciampolini, P., Matrella, G., Marras, A., Papi, A., Bilei, G.M.

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Recent progress of RD53 Collaboration towards next generation Pixel Read-Out Chip for HL-LHC von Demaria, N., Barbero, M.B., Fougeron, D., Gensolen, F., Godiot, S., Menouni, M., Pangaud, P., Rozanov, A., Wang, A., Bomben, M., Calderini, G., Crescioli, F., Dortz, O. Le, Marchiori, G., Dzahini, D., Rarbi, F.E., Gaglione, R., Gonella, L., Hemperek, T., Huegging, F., Karagounis, M., Kishishita, T., Krueger, H., Rymaszewski, P., Wermes, N., Ciciriello, F., Corsi, F., Marzocca, C., Robertis, G. De, Loddo, F., Licciulli, F., Andreazza, A., Liberali, V., Shojaii, S., Stabile, A., Bagatin, M., Bisello, D., Mattiazzo, S., Ding, L., Gerardin, S., Giubilato, P., Neviani, A., Paccagnella, A., Vogrig, D., Wyss, J., Bacchetta, N., Canio, F. De, Gaioni, L., Nodari, B., Manghisoni, M., Re, V., Traversi, G., Comotti, D., Ratti, L., Vacchi, C., Beccherle, R., Bellazzini, R., Magazzu, G., Minuti, M., Morsani, F., Palla, F., Poulios, S., Fanucci, L., Rizzi, A., Saponara, S., Androsov, K., Bilei, G.M., Menichelli, M., Conti, E., Marconi, S., Passeri, D., Placidi, P., Casa, G. Della, Mazza, G., Rivetti, A., Rolo, M.D. Da Rocha, Monteil, E., Pacher, L., Gajanana, D., Gromov, V., Hessey, N., Kluit, R., Zivkovic, V., Havranek, M., Janoska, Z., Marcisovsky, M., Neue, G., Tomasek, L., Kafka, V., Sicho, P., Vrba, V., Vila, I., Lopez-Morillo, E., Aguirre, M.A., Palomo, F.R., Muñoz, F., Abbaneo, D., Christiansen, J., Dannheim, D., Dobos, D.

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A comprehensive analysis of irradiated silicon detectors at cryogenic temperatures von Santocchia, A., MacEvoy, B., Hall, G., Bilei, G.M., Moscatelli, F., Passeri, D., Pignatel, G.U.

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A CAD investigation of depletion mechanisms in irradiated silicon microstrip detectors von Passeri, D., Ciampolini, P., Bilei, G.M.

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Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations von Moscatelli, F, Passeri, D, Morozzi, A, Mendicino, Roberto, G -F Dalla Betta, Bilei, G M

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