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Raman Scattering and Carrier Diffusion Study in Heavily Co-doped 6H-SiC Layers von Gulbinas, K, Ščajev, P, Bikbajavas, V, Grivickas, V, Korolik, O V, Mazanik, A V, Fedotov, A K, Jokubavičius, V, Linnarsson, M K, Syväjärvi, M, Kamiyama, S
Veröffentlicht in IOP conference series. Materials Science and Engineering
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