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    Asymmetric Keep-Out Zone of Through-Silicon Via Using 28-nm Technology Node

    Asymmetric Keep-Out Zone of Through-Silicon Via Using 28-nm Technology Node von Jhih-Yang Yan, Sun-Rong Jan, Yi-Chung Huang, Huang-Siang Lan, Huang, Y.-H, Bigchoug Hung, Chan, K.-T, Huang, Michael, Yang, M.-T, Liu, C. W.

    Veröffentlicht in IEEE electron device letters

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    Synthesis of Optimal On-Chip Baluns

    Synthesis of Optimal On-Chip Baluns von Kapur, S., Long, D.E., Frye, R.C., Yu-Chia Chen, Ming-Hsiang Cho, Huai-Wen Chang, Jun-Hong Ou, Bigchoug Hung


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    Channel thermal noise and its scaling impact on deep sub-100nm MOSFETs

    Channel thermal noise and its scaling impact on deep sub-100nm MOSFETs von Ge Tan, Chih-Hung Chen, Bigchoug Hung, Peiming Lei, Chune-Sin Yeh

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    Thermal noise performance in recent CMOS technologies

    Thermal noise performance in recent CMOS technologies von Chih-Hung Chen, Bigchoug Hung, Sheng-Yi Huang, Jin-Shyong Jan, Liang, V., Chune-Sin Yeh

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