Thermal vacuum sensor with compensation of heat transfer von Berlicki, T.M.

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Temperature dependence of resistivity of Si–Ta film deposited by magnetron sputtering von Berlicki, T. M., Prociów, E. L., Brzeziński, J., Osadnik, S. J.

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Ambient temperature effect in thin film vacuum sensor von Berlicki, T.M, Urbański, K.J

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Convection–conductive vacuum sensor von Berlicki, T.M

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Electrical properties of Ge–Au films prepared by magnetron sputtering von Berlicki, T.M., Prociów, E.L., Beensh-Marchwicka, G., Osadnik, S.J.

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Vacuum pressure thermal thin-film sensor von Berlicki, T.M., Osadnik, S.J., Prociów, E.L.

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Resistivity of Si–Ni and Si–Ta layers made by magnetron sputtering method von Berlicki, T.M., Beensh-Marchwicka, G., Prociów, E.L., Osadnik, S.J.

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Thermoelement humidity sensor von Berlicki, T.M., Murawski, E., Muszyński, M., Osadnik, S.J., Prociów, E.L.

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Thin-film thermocouples of Ge doped with Au and B von Berlicki, T.M., Murawski, E., Muszyński, M., Osadnik, S.J., Prociów, E.L.

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Analysis of an ambient temperature influence on the thermal thin-film microsensor von Berlicki, T.M., Murawski, E., Osadnik, S.J., Prociów, E.L.

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Aging mechanisms in thin film Al-Al 2O 3-Al capacitors von Berlicki, T.M., Osadnik, S.J.

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The Thermoelectrical Behaviour of Tantalum-Antimony-Germanium Thin Films von Prociow, E., Dziedzic, A., Berlicki, T.M.

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Voltage-Testing of Thin-film Capacitors von Berlicki, T.M.

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Numerical simulation and optimisation of the vacuum microsensor von Wymyslowski, A., Urbanski, K.J., Berlicki, T.M.

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VOLTAGE DEGRADATION MODEL OF THIN FILM CAPACITORS von Berlicki, T. M.

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Voltage-Testing of Thin-film Capacitors von Berlicki, T.M.

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THERMORESISTIVE THIN FILM FLOW SENSOR von BERLICKI, T. M, MURAWSKI, E, OSADNIK, S. J, PROCIOW, E. L

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Interdépendence des variations de la capacité et de la conductivité dans les structures Al⧸Al2O3⧸Al von Berlicki, T.M, Murawski, E, Osadnik, S.J

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Interdépendence des variations de la capacité et de la conductivité dans les structures Al⧸Al 2O 3⧸Al von Berlicki, T.M, Murawski, E, Osadnik, S.J

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Aging mechanisms in thin film Al-Al2O3-Al capacitors von Berlicki, T.M., Osadnik, S.J.

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