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Genome-scale analysis of aberrant DNA methylation in colorectal cancer
Veröffentlicht in Genome research
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Low Energy Proton Single-Event-Upset Test Results on 65 nm SOI SRAM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Towards Maximum Utilization of CO2 Storage Resources
Veröffentlicht in Energy procedia
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Single-Event Upsets and Multiple-Bit Upsets on a 45 nm SOI SRAM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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