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    Comparative investigation on electronic properties of metal-semiconductor structures with variable ZnO thin film thickness for sensor applications

    Comparative investigation on electronic properties of metal-semiconductor structures with variable ZnO thin film thickness for sensor applications von Çiçek, Osman, Kurnaz, Sedat, Bekar, Atakan, Öztürk, Özgür

    Veröffentlicht in Composites. Part B, Engineering

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