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Microwave power SiC MESFETs and GaN HEMTs
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Time-Dependent Dielectric Breakdown of 4H-SiC/[Formula Omitted] MOS Capacitors
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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Time-Dependent Dielectric Breakdown of 4H-SiC/ \hbox MOS Capacitors
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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