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Silicon-based semiconductor heterostructures: column IV bandgap engineering
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
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Strain relaxation phenomena in GexSi1−x/Si strained structures
Veröffentlicht in Thin solid films
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Silicon MBE: From strained-layer epitaxy to device application
Veröffentlicht in Journal of crystal growth
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Observation of a (5×5) LEED pattern from GexSi1-x(111) alloys
Veröffentlicht in Surface science
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Structural changes caused by H2 adsorption on the Si(111)7×7 surface
Veröffentlicht in Surface science
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The effects of nucleation and growth on epitaxy in the CoSi2/Si system
Veröffentlicht in Thin solid films
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Avalanche gain in GexSi1-x/Si infrared waveguide detectors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Short-wavelength, high-speed, Si-based resonant-cavity photodetector
Veröffentlicht in IEEE photonics technology letters
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New infrared detector on a silicon chip
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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A DLTS study of the gap states of amorphous Si1−xHx alloys
Veröffentlicht in Journal of non-crystalline solids
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