Suchergebnisse - Baylav, Burak | OPAC THWS

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Impact of pupil plane filtering on mask roughness transfer von Baylav, Burak, Maloney, Chris, Levinson, Zac, Bekaert, Joost, Vaglio Pret, Alessandro, Smith, Bruce W.

Veröffentlicht in Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

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LOCAL DENSITY CONTROL FOR REDUCING LINE CAPACITANCE IN BEOL DESIGNS von BHAWE, Dhananjay, BAYLAV, Burak

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TRANSITION CELLS BETWEEN DESIGN BLOCKS ON A WAFER von Khandelwal, Nidhi, Baylav, Burak

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TRANSITION CELLS BETWEEN DESIGN BLOCKS ON A WAFER von KHANDELWAL, Nidhi, BAYLAV, Burak

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TRANSITION CELLS BETWEEN DESIGN BLOCKS ON A WAFER von Khandelwal, Nidhi, Baylav, Burak

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LOCAL DENSITY CONTROL FOR METAL CAPACITANCE REDUCTION von Bhawe, Dhananjay, Baylav, Burak

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LOCAL DENSITY CONTROL FOR REDUCING LINE CAPACITANCE IN BEOL DESIGNS von BHAWE, Dhananjay, BAYLAV, Burak

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A New Test Chip for CMOS Manufacturing Laboratory Courses at RIT von Baylav, B., Fuller, L.F., Kudithipudi, D.

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