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    Belle II silicon vertex detector von Adamczyk, K., Aihara, H., Angelini, C., Aziz, T., Babu, V., Bacher, S., Bahinipati, S., Barberio, E., Baroncelli, Ti, Baroncelli, To, Basith, A.K., Batignani, G., Bauer, A., Behera, P.K., Bergauer, T., Bettarini, S., Bhuyan, B., Bilka, T., Bosi, F., Bosisio, L., Bozek, A., Buchsteiner, F., Casarosa, G., Ceccanti, M., Červenkov, D., Chendvankar, S.R., Dash, N., Divekar, S.T., Doležal, Z., Dutta, D., Enami, K., Forti, F., Friedl, M., Hara, K., Higuchi, T., Horiguchi, T., Irmler, C., Ishikawa, A., Jeon, H.B., Joo, C.W., Kandra, J., Kang, K.H., Kato, E., Kawasaki, T., Kodyš, P., Kohriki, T., Koike, S., Kolwalkar, M.M., Kvasnička, P., Lanceri, L., Lettenbicher, J., Maki, M., Mammini, P., Mayekar, S.N., Mohanty, G.B., Mohanty, S., Morii, T., Nakamura, K.R., Natkaniec, Z., Negishi, K., Nisar, N.K., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Paladino, A., Paoloni, E., Park, H., Pilo, F., Profeti, A., Rashevskaya, I., Rao, K.K., Rizzo, G., Rozanska, M., Sandilya, S., Sasaki, J., Sato, N., Schultschik, S., Schwanda, C., Seino, Y., Shimizu, N., Stypula, J., Suzuki, J., Tanaka, S., Tanida, K., Taylor, G.N., Thalmeier, R., Thomas, R., Tsuboyama, T., Uozumi, S., Urquijo, P., Vitale, L., Volpi, M., Watanuki, S., Watson, I.J., Webb, J., Wiechczynski, J., Williams, S., Würkner, B., Yamamoto, H., Yin, H., Yoshinobu, T.


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    Belle-II VXD radiation monitoring and beam abort with sCVD diamond sensors von Adamczyk, K., Aihara, H., Angelini, C., Aziz, T., Babu, V., Bacher, S., Bahinipati, S., Barberio, E., Baroncelli, T., Basith, A.K., Batignani, G., Bauer, A., Behera, P.K., Bergauer, T., Bettarini, S., Bhuyan, B., Bilka, T., Bosi, F., Bosisio, L., Bozek, A., Buchsteiner, F., Casarosa, G., Ceccanti, M., Červenkov, D., Chendvankar, S.R., Dash, N., Divekar, S.T., Doležal, Z., Dutta, D., Forti, F., Friedl, M., Hara, K., Higuchi, T., Horiguchi, T., Irmler, C., Ishikawa, A., Jeon, H.B., Joo, C., Kandra, J., Kang, K.H., Kato, E., Kawasaki, T., Kodyš, P., Kohriki, T., Koike, S., Kolwalkar, M.M., Kvasnička, P., Lanceri, L., Lettenbicher, J., Mammini, P., Mayekar, S.N., Mohanty, G.B., Mohanty, S., Morii, T., Nakamura, K.R., Natkaniec, Z., Negishi, K., Nisar, N.K., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Paladino, A., Paoloni, E., Park, H., Pilo, F., Profeti, A., Rashevskaya, I., Rao, K.K., Rizzo, G., Rozanska, M., Sandilya, S., Sasaki, J., Sato, N., Schultschik, S., Schwanda, C., Seino, Y., Shimizu, N., Stypula, J., Tanaka, S., Tanida, K., Taylor, G.N., Thalmeier, R., Thomas, R., Tsuboyama, T., Uozumi, S., Urquijo, P., Vitale, Lorenzo, Volpi, M., Watanuki, S., Watson, I.J., Webb, J., Wiechczynski, J., Williams, S., Würkner, B., Yamamoto, H., Yin, H., Yoshinobu, T.


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    A bonding study toward the quality assurance of Belle-II silicon vertex detector modules von Kang, K.H., Jeon, H.B., Park, H., Uozumi, S., Adamczyk, K., Aihara, H., Angelini, C., Aziz, T., Babu, V., Bacher, S., Bahinipati, S., Barberio, E., Baroncelli, T., Basith, A.K., Batignani, G., Bauer, A., Behera, P.K., Bergauer, T., Bettarini, S., Bhuyan, B., Bilka, T., Bosi, F., Bosisio, L., Bozek, A., Buchsteiner, F., Casarosa, G., Ceccanti, M., Červenkov, D., Chendvankar, S.R., Dash, N., Divekar, S.T., Doležal, Z., Dutta, D., Forti, F., Friedl, M., Hara, K., Higuchi, T., Horiguchi, T., Irmler, C., Ishikawa, A., Joo, C.W., Kandra, J., Kato, E., Kawasaki, T., Kodyš, P., Kohriki, T., Koike, S., Kolwalkar, M.M., Kvasnička, P., Lanceri, L., Lettenbicher, J., Mammini, P., Mayekar, S.N., Mohanty, G.B., Mohanty, S., Morii, T., Nakamura, K.R., Natkaniec, Z., Negishi, K., Nisar, N.K., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Paladino, A., Paoloni, E., Pilo, F., Profeti, A., Rao, K.K., Rashevskaia, I., Rizzo, G., Rozanska, M., Sandilya, S., Sasaki, J., Sato, N., Schultschik, S., Schwanda, C., Seino, Y., Shimizu, N., Stypula, J., Tanaka, S., Tanida, K., Taylor, G.N., Thalmeier, R., Thomas, R., Tsuboyama, T., Urquijo, P., Vitale, L., Volpi, M., Watanuki, S., Watson, I.J., Webb, J., Wiechczynski, J., Williams, S., Würkner, B., Yamamoto, H., Yin, H., Yoshinobu, T.


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    Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualification von Adamczyk, K., Aihara, H., Angelini, C., Aziz, T., Babu, Varghese, Bacher, S., Bahinipati, S., Barberio, E., Baroncelli, T., Basith, A.K., Batignani, G., Bauer, A., Behera, P.K., Bergauer, T., Bettarini, S., Bhuyan, B., Bilka, T., Bosi, F., Bosisio, L., Bozek, A., Buchsteiner, F., Casarosa, G., Ceccanti, M., Červenkov, D., Chendvankar, S.R., Dash, N., Divekar, S.T., Doležal, Z., Dutta, D., Forti, F., Friedl, M., Hara, K., Higuchi, T., Horiguchi, T., Irmler, C., Ishikawa, A., Jeon, H.B., Joo, C., Kandra, J., Kang, K.H., Kato, E., Kawasaki, T., Kodyš, P., Kohriki, T., Koike, S., Kolwalkar, M.M., Kvasnička, P., Lanceri, L., Lettenbicher, J., Mammini, P., Mayekar, S.N., Mohanty, G.B., Mohanty, S., Morii, T., Nakamura, K.R., Natkaniec, Z., Negishi, K., Nisar, N.K., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Paladino, A., Paoloni, E., Park, H., Pilo, F., Profeti, A., Rao, K.K., Rashevskaya, I., Rizzo, G., Rozanska, M., Sandilya, S., Sasaki, J., Sato, N., Schultschik, S., Schwanda, C., Seino, Y., Shimizu, N., Stypula, J., Tanaka, S., Tanida, K., Taylor, G.N., Thalmeier, R., Thomas, R., Tsuboyama, T., Uozumi, S., Urquijo, P., Vitale, L., Volpi, M., Watanuki, S., Watson, I.J., Webb, J., Wiechczynski, J., Williams, S., Würkner, B., Yamamoto, H., Yin, H., Yoshinobu, T.


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