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Interferometric detection of forward scattered light from small particles
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Patterned wafer inspection using spatial filtering for the cluster environment
Veröffentlicht in Applied Optics
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Veröffentlicht in Journal of manufacturing systems
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Nondestructive depth profiling of carrier lifetimes in full silicon wafers
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Non-intrusive mapping of subsurface defects in semiconductors
Veröffentlicht in Applied Physics A Solids and Surfaces
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Investigation of particle pairing in liquids
Veröffentlicht in Journal of colloid and interface science
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Recommended values for β+-delayed proton and α emission
Veröffentlicht in Atomic data and nuclear data tables
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