A high-power, low-contamination laser plasma source for Extreme UV lithography von Bijkerk, F., Shmaenok, L.A., Shevelko, A.P., Bastiaensen, R.K.F.J., Bruineman, C., van Honk, A.G.J.R.

Volltext

Extreme UV lithography: A new laser plasma target concept and fabrication of multilayer reflection masks von Bijkerk, F., Shmaenok, L.A., Louis, E., Voorma, H.J., Koster, N.B., Bruineman, C., Bastiaensen, R.K.F.J., van der Drift, E.W.J.M., Romijn, J., de Groot, L.E.M., Rousseeuw, B.A.C., Zijlstra, T., Platonov, Yu.Ya, Salashchenko, N.N.

Volltext