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A Profile-Recovery Algorithm for a High-Accuracy Optical Flat
Veröffentlicht in Measurement techniques
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Photosensitivity of a-C:H/c-Si heterojunctions
Veröffentlicht in Semiconductors (Woodbury, N.Y.)
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Permittivity and refraction index of ferroelectric in intensive external field
Veröffentlicht in Ferroelectrics
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Polarization optical studies at large strains
Veröffentlicht in Journal of applied mechanics and technical physics
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