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A Self-Checking Scheme to Mitigate Single Event Upset Effects in SRAM-Based FPAAs
von
Balen, T.R.
,
Leite, F.
,
Kastensmidt, F.L.
,
Lubaszewski, M.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on nuclear science
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2
Impact of aging on the SEU immunity of FinFET-based embedded memory systems
von
Constante, A.A.
,
Balen, T.R.
,
Champac, V.H.
,
Poehls, L.B.
,
Vargas, F.L.
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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3
Functional test of field programmable analog arrays
von
Balen, T.R.
,
Calvano, J.V.
,
Lubaszewski, M.S.
,
Renovelf, M.
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4
Testing the interconnect networks and I/O resources of field programmable analog arrays
von
Pereira, G.
,
Lubaszewski, M.
,
Andrade, A.
,
Balen, T.R.
,
Azais, F.
,
Renovell, M.
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5
Single Event Upset in SRAM-based Field Programmable Analog Arrays: Effects and Mitigation
von
Balen, T.R.
,
Kastensmidt, F.L.
,
Lubaszewski, M.S.
,
Renovell, M.
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6
Carbonation and hydration of mortars with calcium hydroxide and calcium silicate binders
von
Cizer, Özlem
,
Van Balen, Koenraad
,
Van Gemert, Dionys
,
Elsen, Jan
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ingentaconnect
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Ebook Central Perpetual And Dda
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Ebooks On Ebscohost
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Lirias (Ku Leuven Association)
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Casalini Torrossa Ebook Single Purchase
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Taylor & Francis Ebooks A-Z
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Access Via Sciencedirect (Elsevier)
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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