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Influence of nitrogen concentration on conductivity of N-doped a-SiC:H films deposited by PECVD
Veröffentlicht in Vacuum
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Investigation of radiation damage in N doped a-SiC : H films annealed by pulsed electron beam
Veröffentlicht in Vacuum
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Determination of the composition of NbTi films by elastic scattering of 3He
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