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    The effect of highly ionising particles on the CMS silicon strip tracker von Adam, W., Friedl, M., Tasevsky, M., Dewulf, J.-P., Wickens, J., D’Hondt, J., Heyninck, J., Bonnet, J.-L., Delaere, C., Ninane, A., Piotrzkowski, K., Vander-Donckt, M., Herquet, P., Mäenpää, T., Tuominen, E., Tuuva, T., Haroutunian, R., Mirabito, L., Charles, F., Fontaine, J.C., Didierjean, F., Goerlach, U., Maazouzi, C., Feld, L., Klein, K., Kukulies, C., Olzem, J., Pierschel, G., Siedling, R., Duda, M., Flossdorf, A., Hegner, B., Mnich, J., Reinhold, B., Klanner, R., Atz, B., Boegelspacher, F., Hartmann, F., Heier, S., Simonis, H.-J., Zhukov, V., My, S., Bocci, A., Ciulli, V., Marchettini, C., Kaminsky, A., Paccagnella, A., Rando, R., Angarano, M.M., Biasini, M., Fanò, L., Giorgi, M., Puscalau, M., Ricci, D., Bagliesi, G., Basti, A., Boccali, T., Borrello, L., Moggi, A., Raffaelli, F., Rizzi, D., Sentenac, D., Sguazzoni, G., Tonelli, G., Biino, C., Demaria, N., Buchmuller, O., Cucciarelli, S., Eppard, M., Frey, A., Grabit, R., Onnela, A., Rolandi, G., Freudenreich, K., Grab, C., Amsler, C., Chiochia, V., Bell, K.W., Halsall, R., Jones, L., Pearson, M., Bainbridge, R., Noy, M., Raymond, D.M., Takahashi, M., Kim, D.W., Atac, M., Spiegel, L., Shabalina, E., Bean, A., Coppage, D., Korjenevski, S., Reay, N.W., Bartz, E., Worm, S., Hanson, G.G., Hale, D., Kyre, S., Bolla, G., Rott, C.


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