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    Beckmann formulation for accurate determination of submicron surface roughness and correlation length

    Beckmann formulation for accurate determination of submicron surface roughness and correlation length von Mahdieh, M.H., Badomi, E.

    Veröffentlicht in Optics and laser technology

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    Determination of roughness and correlation length of dielectric surfaces in nano/micro scales using Kirchhoff Approximation method

    Determination of roughness and correlation length of dielectric surfaces in nano/micro scales using Kirchhoff Approximation method von Mahdieh, M. H., Badomi, E.

    Veröffentlicht in Journal of optics (New Delhi)

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