Beam trajectory via combination of image shift and hardware alpha tilt von Schneider, Martin, Varslot, Trond Karsten, Shán{hacek over (e)}l, Ond{hacek over (r)}ej L, Ba{hacek over (c)}o, Ond{hacek over (r)}ej R

Volltext bestellen

Coating on dielectric insert of a resonant RF cavity von van Rens, Jasper Frans Mathijs, Kieft, Erik Rene, Dona, Pleun, Mutsaers, Peter, Verhoeven, Wouter, Luiten, Jom, Ba{hacek over (c)}o, Ond{hacek over (r)}ej

Volltext bestellen