-
1
Ultra-Fast SiC Wafer Surface Roughness Mapping
Veröffentlicht in Materials Science Forum
VolltextArtikel -
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
Correlation of Extended Defects on Carrier Lifetime in Thick SiC Epilayers
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
11
15 kV, Large Area (1 cm2), 4H-SiC p-Type Gate Turn-Off Thyristors
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
12
-
13
-
14
-
15
10 kV, 10 A Bipolar Junction Transistors and Darlington Transistors on 4H-SiC
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
16
SiC Epitaxial Layer Growth in a 6x150 mm Warm-Wall Planetary Reactor
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
-
20