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Investigation into the Body Diode Degradation of 6.5 kV SiC MOSFETs
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Short Circuit Ruggedness of 600 V SiC Trench JFETs
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An Investigation into the Dynamic Behavior of 3.3kV MOSFETs Body Diode
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Dynamic Characterization and Robustness Test of High Voltage SiC MOSFETs
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Performance Evaluation of SiC JBS Diodes Rated for 6.5kV Applications
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