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Pixel-based analysis of FRAP data with a general initial bleaching profile
Veröffentlicht in Journal of microscopy (Oxford)
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Surface self-diffusion of silicon during high temperature annealing
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Interactions and Transport in Highly Concentrated LiTFSI‐based Electrolytes
Veröffentlicht in Chemphyschem
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