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Electron-Induced Single-Event Upsets in Static Random Access Memory
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Low Energy Proton Single-Event-Upset Test Results on 65 nm SOI SRAM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-Event Upsets and Multiple-Bit Upsets on a 45 nm SOI SRAM
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Correlates of symptomatic, minor and major depression in the elderly
Veröffentlicht in Journal of affective disorders
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A Trigger and Response System for Preventing Cardiac Arrest in the ICU
Veröffentlicht in Critical care explorations
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