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Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution
von
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Data detection for local probe data storage devices
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,
BACHTOLD PETER
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BENNIG GERD K
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DURIG URS T
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LOELIGER THEODOR W
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VETTIGER PETER
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CHERUBINI GIOVANNI
,
DHOLAKIA AJAY
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Applications Of Scanning-Probe Techniques, E.g. Scanning Probemicroscopy [Spm]
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General Tagging Of Cross-Sectional Technologies Spanning Over Several Sections Of The Ipc
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General Tagging Of New Technological Developments
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Information Storage
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Information Storage Based On Relative Movement Between Recordcarrier And Transducer
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Measuring
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Scanning-Probe Techniques Or Apparatus
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