Suchergebnisse - BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE | OPAC THWS

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METHOD AND SYSTEM FOR TESTING INTEGRATED RADIO-FREQUENCY CIRCUITS AT THE WAFER LEVEL AND THE USE THEREOF von BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE, HUERTAS DIAZ, JOSE LUIS

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IC testing methods and apparatus von BARRAGAN ASIAN MANUEL JOSE, PINEDA DE GYVEZ JOSE DE JESUS, ZJAJO AMIR

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3

IC testing methods and apparatus von Zjajo, Amir, Barragan Asian, Manuel Jose, Pineda De Gyvez, Jose De Jesus

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IC TESTING METHODS AND APPARATUS von ZJAJO, AMIR, PINEDA DE GYVEZ, JOSE DE JESUS, BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE

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5

METODO Y SISTEMA DE TESTADO DE CIRCUITOS INTEGRADOS DE RADIOFRECUENCIA A NIVEL DE OBLEA Y SU USO von BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE, HUERTAS DIAZ, JOSE LUIS

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IC TESTING METHODS AND APPARATUS von ZJAJO, AMIR, PINEDA DE GYVEZ, JOSE DE JESUS, BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE

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METODO Y SISTEMA DE TESTADO DE CIRCUITOS INTEGRADOS DE RADIOFRECUENCIA A NIVEL DE OBLEA Y SU USO von BARRAGAN ASIAN, MANUEL JOSE, HUERTAS DIAZ, JOSE LUIS

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Ic testing methods and apparatus von BARRAGAN ASIAN MANUEL JOSE, PINEDA DE GYVEZ JOSE DE JESUS, ZJAJO AMIR

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BIST Method for Die-Level Process Parameter Variation Monitoring in Analog/Mixed-Signal Integrated Circuits von Zjajo, A., Barragan Asian, M.J., de Gyvez, J.P.

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10

Interactive presentation: BIST method for die-level process parameter variation monitoring in analog/mixed-signal integrated circuits von Zjajo, Amir, Asian, Manuel J. Barragan, de Gyvez, Jose Pineda

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