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    SPECIMEN FOR PROBE MEASUREMENTS OF SPECIFIC CONDVCTANCE AND ENF

    SPECIMEN FOR PROBE MEASUREMENTS OF SPECIFIC CONDVCTANCE AND ENF von VEDENEEV A.S.,SU, SVESHNIKOVA I.N.,SU, BAJRAMOV M.A.,SU, KLOCHKOVA A.M.,SU, ZHDAN A.G.,SU

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    METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS

    METHOD OF DETERMINING PARAMETERS OF SEMICONDUCTORS von VEDENEEV A.S.,SU, SULZHENKO P.S.,SU, BAJRAMOV M.A.,SU, ANTONENKO V.I.,SU, ZHDAN A.G.,SU

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    METHOD OF DETERMINING ELECTROPHYSICAL CHARACTERISTICS OF CONDUCTING CHANNELS AT SEMICONDUCTOR-DIELECTRIC JUNCTION

    METHOD OF DETERMINING ELECTROPHYSICAL CHARACTERISTICS OF CONDUCTING CHANNELS AT SEMICONDUCTOR-DIELECTRIC JUNCTION von VEDENEEV A.S.,SU, BAJRAMOV M.A.,SU, ZHDAN A.G.,SU

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