-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
FIB-SIMS quantification using TOF-SIMS with Ar and Xe plasma sources
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
VolltextArtikel -
9
A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation
Veröffentlicht in Surface science
VolltextArtikel -
10
-
11
Analysis of Thin Films by Time-of-Flight Low Energy Ion Scattering
Veröffentlicht in Acta physica Polonica, A
VolltextArtikel -
12
Study of thin oxide films by ellipsometry and ARXPS
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
VolltextArtikel -
13
TOF–LEIS analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(1 1 1)
Veröffentlicht in Surface science
VolltextArtikel -
14
Deposition and in-situ characterization of ultra-thin films
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
15
A Highly Conserved Program of Neuronal Microexons Is Misregulated in Autistic Brains
Veröffentlicht in Cell
VolltextArtikel -
16
-
17
-
18
-
19
-
20