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Design and Modeling of a High-Speed AFM-Scanner
Veröffentlicht in IEEE transactions on control systems technology
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Special Issue on "Advanced Control Methods for Scanning Probe Microscopy"
Veröffentlicht in Asian journal of control
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Revisiting The Ziegler-Nichols Tuning Rules For Pi Control
Veröffentlicht in Asian journal of control
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Design of Measurement Noise Filters for PID Control
Veröffentlicht in IFAC Proceedings Volumes
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