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Control of PVD TiN thickness measurements
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Spectroellipsometric characterization of thin silicon nitride films
Veröffentlicht in Thin solid films
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Characterization and metrology of the diffusion doped polysilicon using ellipsometry
Veröffentlicht in Thin solid films
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Gliding arc gas discharge
Veröffentlicht in Progress in energy and combustion science
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Quasi-DC electrical discharge characterization in a supersonic flow
Veröffentlicht in Experiments in fluids
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