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    Physics Based Fault Models for Testing High-Voltage LDMOS

    Physics Based Fault Models for Testing High-Voltage LDMOS von Kannan, S., Kim, B., Gupta, A., Taenzler, F., Antley, R., Moushegian, K.


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    Physics-Based Low-Cost Test Technique for High Voltage LDMOS

    Physics-Based Low-Cost Test Technique for High Voltage LDMOS von Kannan, Sukeshwar, Kannan, Kaushal, Kim, Bruce C., Taenzler, Friedrich, Antley, Richard, Moushegian, Ken, Butler, Kenneth M., Mirizzi, Doug

    Veröffentlicht in Journal of electronic testing

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    Embedded RF Circuit Diagnostic Technique with Multi-Tone Dither Scheme

    Embedded RF Circuit Diagnostic Technique with Multi-Tone Dither Scheme von Kannan, Sukeshwar, Kim, Bruce, Srinivasan, Ganesh, Taenzlar, Friedrich, Antley, Richard, Force, Craig

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    Enable input buffer coupling enable pad, functional circuitry, test circuit

    Enable input buffer coupling enable pad, functional circuitry, test circuit von Whetsel, Lee D, Antley, Richard L

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    Test circuitry coupling test pad to functional core input pad

    Test circuitry coupling test pad to functional core input pad von Whetsel, Lee D, Antley, Richard L

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    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von Whetsel, Lee D, Antley, Richard L

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    IMPROVED DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    IMPROVED DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von Whetsel Lee D, Antley Richard L

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    Die testing using top surface test pads

    Die testing using top surface test pads von Whetsel Lee D, Antley Richard L

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    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Die with separate functional input, test out, enable input buffers

    Die with separate functional input, test out, enable input buffers von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Test output buffer functional output input, test output, enable input

    Test output buffer functional output input, test output, enable input von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Test circuitry coupled to embedded circuit input/output unconnected to pads

    Test circuitry coupled to embedded circuit input/output unconnected to pads von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Novel ESD Protection Scheme for Testing High Voltage LDMOS

    Novel ESD Protection Scheme for Testing High Voltage LDMOS von Kannan, Sukeshwar, Kim, Bruce, Taenzler, Friedrich, Antley, Richard, Moushegian, Ken


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    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS

    DIE TESTING USING TOP SURFACE TEST PADS von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Test and enable circuitry connected between embedded die circuits

    Test and enable circuitry connected between embedded die circuits von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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    Development of scalable electrical models for high-voltage LDMOS

    Development of scalable electrical models for high-voltage LDMOS von Sukeshwar, Bruce, Friedrich, Richard

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    Tagungsbericht

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  19. 19
    Integrated circuit having electrically isolatable test circuitry

    Integrated circuit having electrically isolatable test circuitry von Antley, Richard L, Whetsel, Lee D

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    Integrated circuit having electrically isolatable test circuitry

    Integrated circuit having electrically isolatable test circuitry von WHETSEL LEE D, ANTLEY RICHARD L

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