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    X-ray diffraction analysis of an osmium silicide epilayer grown on Si(1 0 0) by molecular beam epitaxy

    X-ray diffraction analysis of an osmium silicide epilayer grown on Si(1 0 0) by molecular beam epitaxy von Amir, F.Z., Cottier, R.J., Golding, T.D., Donner, W., Anibou, N., Stokes, D.W.

    Veröffentlicht in Journal of crystal growth

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    Molecular beam epitaxial growth of osmium silicides

    Molecular beam epitaxial growth of osmium silicides von Cottier, R. J., Amir, F. Z., Zhao, W., Hossain, K., Gorman, B. P., Golding, T. D., Anibou, N., Donner, W.


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