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Charge Collection and Charge Sharing in a 130 nm CMOS Technology
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Laser Verification of Charge Sharing in a 90 nm Bulk CMOS Process
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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An In Vitro Method for Identifying Postattachment Striga Resistance in Maize and Sorghum
Veröffentlicht in Agronomy journal
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C-CREST Technique for Combinational Logic SET Testing
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-Event Tolerant Latch Using Cascode-Voltage Switch Logic Gates
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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