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SERIAL PRESENCE DETECT (SPD) TESTER AND TESTING METHOD THEREOF
von
AMRAN BIN KASSIM
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APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICES
von
Amran bin Kassim
,
Reuben J. Chang
,
Ali Akbar Abdul Aziz
,
Satyanarayan S. Iyer
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Patent
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Multi-response Optimization of Machining Simulation Approach Using Grey Relational Analysis
von
Ali, Mohd Amran Md
,
Sivarao
,
Abdullah, Zulkeflee
,
Izamshah, Raja
,
Kassim, Mohd Shahir
,
Jamaludin, Ahmad Shahir
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Intelligent Manufacturing and Mechatronics: Proceedings of SympoSIMM 2021
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Ebook Central Perpetual And Dda
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Ebooks On Ebscohost
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Esp@Cenet
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Springer Books
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Casalini Torrossa Ebook Single Purchase
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