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    Improved buildup model for radiation-induced, defects in MOSFET isolation oxides

    Improved buildup model for radiation-induced, defects in MOSFET isolation oxides von Shaker, Hesham H., Saleh, A.A., Amin, Mohamed Refky, Habib, S.E.D.


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    Improved Buildup Model for Radiation-Induced Defects in MOSFET Isolation Oxides

    Improved Buildup Model for Radiation-Induced Defects in MOSFET Isolation Oxides von Shaker, Hesham. H, Saleh, A. A, Amin, Mohamed Refky, Habib, S. E. D

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    Improved Buildup Model for Radiation-Induced Defects in MOSFET Isolation Oxides

    Improved Buildup Model for Radiation-Induced Defects in MOSFET Isolation Oxides von Shaker, Hesham H, Saleh, A A, Mohamed Refky Amin, Habib, S E D

    Veröffentlicht in arXiv.org

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