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Suchergebnisse - Amatllé, E.
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1
Systematic and random variability analysis of two different 6T-SRAM layout topologies
von
Amat, E.
,
Amatllé, E.
,
Gómez, S.
,
Aymerich, N.
,
Almudéver, C.G.
,
Moll, F.
,
Rubio, A.
Veröffentlicht in
Microelectronics
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Influència de l’acabat superficial en l’adhesió de recobriments durs, en carburs cementats mecanitzats per electroerosió
von
Maixenchs Amatllé, Marçal
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