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Engineering Single Defects in Silicon Carbide Bulk, Nanostructures and Devices von Bosi, Matteo, McCallum, J.C., Ohshima, Takeshi, Gibson, B.C., Almutairi, A.F.M., Negri, Marco, Johnson, B.C., Lau, D.W.M., Lohrmann, Alexander, Gali, Ádám, Castelletto, Stefania
Veröffentlicht in Materials Science Forum
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