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The COV defect in neutron irradiated silicon: An infrared spectroscopy study
von
Aliprantis, D.N.
,
Antonaras, G.
,
Angeletos, T.
,
Sgourou, E.N.
,
Chroneos, A.
,
Londos, C.A.
Veröffentlicht in
Materials science in semiconductor processing
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