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Geometrical quasi-ballistic effects on thermal transport in nanostructured devices
Veröffentlicht in Nano research
VolltextArtikel -
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A Gate-All-Around In2O3 Nanoribbon FET with Near 20 mA/μm Drain Current
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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A Gate-All-Around inO Nanoribbon FET With Near 20 mA/m Drain Current
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Geometrical quasi-ballistic effects on thermal transport in nanostructured devices
Veröffentlicht in Nano research
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A Gate-All-Around Single-Channel In2O3 Nanoribbon FET with Near 20 mA/{\mu}m Drain Current
Veröffentlicht in arXiv.org
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