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    On the scaling limits of low-frequency noise in SiGe HBTs von Johansen, Jarle A., Jin, Zhenrong, Cressler, John D., Cui, Yan, Niu, Guofu, Liang, Qingqing, Rieh, Jae-Sung, Freeman, Greg, Ahlgren, Dave, Joseph, Alvin

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