Suchergebnisse - Adderton, Dennis

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Noncontact nanolithography using the atomic force microscope von Wilder, Kathryn, Quate, Calvin F., Adderton, Dennis, Bernstein, Robert, Elings, Virgil

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Immersive full-surround multi-user system design von Kuchera-Morin, JoAnn, Wright, Matthew, Wakefield, Graham, Roberts, Charles, Adderton, Dennis, Sajadi, Behzad, Höllerer, Tobias, Majumder, Aditi

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Effects of moisture on Fowler–Nordheim characterization of thin silicon-oxide films von Peterson, Charles A., Workman, Richard K., Sarid, Dror, Vermeire, Bert, Parks, Harold G., Adderton, Dennis, Maivald, Peter

Veröffentlicht in Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films

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Video training system von ADDERTON DENNIS M

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Video training system von Adderton, Dennis M

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Video training system von ADDERTON DENNIS M

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von Adderton, Dennis, Minne, Stephen

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Active probe for an atomic force microscope and method of use thereof von Adderton, Dennis, Minne, Stephen

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Tire sensor and method von Adderton, Dennis, Minne, Stephen

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von Adderton, Dennis, Minne, Stephen

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THREE-AXIS SENSOR ASSEMBLY FOR USE IN AN ELASTOMERIC MATERIAL von ADDERTON, DENNIS, M, MINNE, STEPHEN, C

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von Adderton, Dennis M, Minne, Stephen C

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von ADDERTON DENNIS M, MINNE STEPHEN C

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Kinetic Interface von KUCHERA-MORIN JOANN C, OVERHOLT DANIEL J, ADDERTON DENNIS M

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von ADDERTON DENNIS M, MINNE STEPHEN C

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Scanning capacitance microscopy for carrier profiling in semiconductors von ERICKSON, A. N, ADDERTON, D. M, STRAUSSER, Y. E, TENCH, R. J

Veröffentlicht in Solid state technology

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Dynamic activation for an atomic force microscope and method of use thereof von ADDERTON DENNIS M, MINNE STEPHEN C

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Active probe for an atomic force microscope and method for use thereof von Adderton, Dennis M, Minne, Stephen C

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Active probe for an atomic force microscope and method for use thereof von ADDERTON DENNIS M, MINNE STEPHEN C

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Tire sensor and method von Adderton, Dennis, Minne, Stephen

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THREE-AXIS SENSOR ASSEMBLY FOR USE IN AN ELASTOMERIC MATERIAL von ADDERTON, DENNIS, M, MINNE, STEPHEN, C

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Kinetic Interface von KUCHERA-MORIN JOANN C, OVERHOLT DANIEL J, ADDERTON DENNIS M

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Scanning capacitance microscopy for carrier profiling in semiconductors von ERICKSON, A. N, ADDERTON, D. M, STRAUSSER, Y. E, TENCH, R. J

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