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1
Residual Stress Properties of Nickel and Copper Deposits Used for C4 Interconnects
von
Arvin, Charles L.
,
Scott, George
,
Goldsmith, Charles
,
Parks, Christopher
,
Wang, Chen
,
Zhang, Yun
,
Abys, Joe
,
Takahashi, Ken
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2
Considerations for the long term reliability of PCBs in harsh environmental conditions
von
Kenny, Jim
,
Wengenroth, Karl
,
Abys, Joe
,
Mui, Marco
,
Wynschenk, Jo
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3
Residual Stress Properties of Nickel Sulfamate and Copper Sulfate Deposits
von
Arvin, Charles L.
,
Scott, George
,
Goldsmith, Charles
,
Parks, Christopher
,
Wang, Chen
,
Zhang, Yun
,
Abys, Joe
,
Takahashi, Ken
Veröffentlicht in
Meeting abstracts (Electrochemical Society)
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Artikel
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4
Cooling devices and methods of using them
von
VARNELL WILLIAM D
,
GULINO ANGELO J
,
HOLTZER MITCH
,
ABYS JOE
,
RAE ALAN
,
SINGH BAWA
,
LEWIS BRIAN
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5
COOLING DEVICES AND METHODS OF USING THEM
von
SLIM, SIMAN
,
RAE, ALAN
,
ABYS, JOE
,
SINGH, BAWA
,
LEWIS, BRIAN
,
GULINO, ANGELO, J
,
HOLTZER, MITCH
,
VARNELL, WILLIAM, D
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Patent
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6
COOLING DEVICES AND METHODS OF USING THEM
von
SLIM, SIMAN
,
RAE, ALAN
,
ABYS, JOE
,
SINGH, BAWA
,
LEWIS, BRIAN
,
GULINO, ANGELO, J
,
HOLTZER, MITCH
,
VARNELL, WILLIAM, D
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COOLING DEVICES AND METHODS OF USING THEM
von
SLIM, SIMAN
,
RAE, ALAN
,
ABYS, JOE
,
SINGH, BAWA
,
LEWIS, BRIAN
,
GULINO, ANGELO, J
,
HOLTZER, MITCH
,
VARNELL, WILLIAM, D
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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