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    Design and Performance Analysis of 1-Bit FinFET Full Adder Cells for Subthreshold Region at 16 nm Process Technology

    Design and Performance Analysis of 1-Bit FinFET Full Adder Cells for Subthreshold Region at 16 nm Process Technology von Tan, Michael Loong Peng, Lim, Cheng Siong, Chin, Huei Chaeng, Abdul Tahrim, ‘Aqilah binti

    Veröffentlicht in Journal of nanomaterials

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