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Single-event destructive failure in a bipolar ASIC
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-event destructive failure in a bipolar ASIC
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Flash X-Ray Testing of ER3400 EAROMS
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Dose Rate Tolerant HEXFET Power Supply
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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