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The Effect of Gate Bias on Hot Electron Trapping
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
VolltextArtikel -
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An 80-MHz 8-bit CMOS D/A converter
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Effect of Long Term Stress on Hot Electron Trapping
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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An 8-bit high-speed CMOS A/D converter
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Time Dependent Dielectric Breakdown of Thin SiO 2 Films
Veröffentlicht in Japanese Journal of Applied Physics
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A configurable ROM circuit for use in gate arrays
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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A 10K-Gate CMOS Gate Array Based on a Gate Isolation Structure
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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A 10K-gate CMOS gate array based on a gate isolation structure
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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